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偏光显微镜的特点及基本原理

    偏光显微镜是鉴定物质细微结构光学性质的一种显微镜。凡具有双折射的物质,在偏光显微镜下就能分辨清楚,当然这些物质也可用染色法来进行观察,但有些则不可能,而必须利用偏光显微镜。偏光显微镜就是将普通光改变为偏光进行镜检的方法,以鉴别某一物质是单折射(各向同性)或双折射性(各向异性)。双折射性是晶体的基本特性,因此,偏光显微镜被广泛地应用在矿物,化学等领域,在生物学和植物学也有广泛应用。
偏光显微镜的原理比较复杂,在此不作过多介绍,偏光显微镜必须具备以下附件:
  ·起偏镜
  ·检偏镜
  ·专用无应力物镜
  ·旋转载物台。
偏光显微镜检术的方式:
  ·正相镜检(Orthscope):又称无畸变镜检,其特点是使用低倍物镜,不用伯特兰透镜(BertrandLens),同时为使照明孔径变小,推开聚光镜的上透镜。正相镜检用于检查物体的双折射性。
  ·锥光镜检(Conoscope):又称干涉镜检,这种方法用于观察物体的单轴或双轴性。
    在偏光镜检术中,要求载物台的中心与光轴必须同轴、起偏镜和检偏镜应处于正交位置、制片不宜过薄。
偏光显微镜在装置上的要求:
  ·光源:最好采用单色光,因为光的速度,折射率,和干涉现像因波长的不同而有差异。一般镜检可使用普通光。
  ·目镜:要带有十字线的目镜。
  ·聚光镜:为了取得平行偏光,应使用能推出上透镜的摇出式聚光镜。
  ·伯特兰透镜:这是把物体所有造成的初级相放大为次级相的辅助透镜。

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